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测试系统综述

一个完整的CCD、红外焦平面阵列测试系统主要包括:光源(黑体或可见光源)、脉冲信号(时钟驱动)、偏置电平(直流偏压)、模数转换模块、数据采集系统和数据分析软件。大致系统结构框图如下所示

要全面、准确评估一个阵列探测器,可以从下面四个方面进行:

1.阵列探测器直流信号特性,包括阵列工作要求的直流偏置、背景电平、直流信号电平、直流信号电平输出的有效范围等特性的评价。

2.阵列探测器芯片级/组件及光电特性,包括Crosstalk、Spot Scan、MTF、Responsivity、D*、Uniformity、Linearity、Noise、NETD、NEI等。

3.阵列探测器成像特性,通过对红外焦平面阵列探测器提供合适的脉冲信号及偏置电平,使探测器正常工作,利用数据采集和红外信号处理硬件平台完成阵列探测器输出的模拟信号采集、非均匀性修正、视频格式转换等处理,并输出标准显示格式的模拟视频信号送图象监视器显示。通过上述可视成像处理,可对红外焦平面阵列探测器的成像特性评价进行直观地评价。

4.阵列探测器成像方式时的光电性能,对红外焦平面阵列探测器,进行系统级特性( MTF, SiTF, NETD, and MRTD)的测量。


进行上述四个方面的测试评价所涵盖的被测参数、所要求工作方式、测试环境各不相同。